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日本日立X射線熒光分析儀
- 更新日期:2024-11-11
- 訪問次數(shù):2559?
日本日立X射線熒光分析儀EA1000VXX射線熒光分析儀與之前的機(jī)器SEA1000AII相比,每個(gè)樣品的測量時(shí)間*都縮短了。例如,樹脂類樣品測量時(shí)間縮短了約1/3,金屬類則縮短了1/10。實(shí)現(xiàn)了處理量(每天可測樣品數(shù)量)的飛躍性提高。
日本日立X射線熒光分析儀
1. 快速測量
與之前的機(jī)器SEA1000AII相比,每個(gè)樣品的測量時(shí)間*都縮短了。例如,樹脂類樣品測量時(shí)間縮短了約1/3,金屬類則縮短了1/10。實(shí)現(xiàn)了處理量(每天可測樣品數(shù)量)的飛躍性提高。
塑料中的 Cd,Pb,Hg,Br,Cr | 高濃度BrSb塑料中的 Cd,Pb,Hg,Cr | 黃銅中的 Cd,Pb,Hg,Br,Cr | |
---|---|---|---|
EA1000VX | 約30秒 | 120秒以內(nèi) | 200秒以內(nèi) |
SEA1000AII | 約100秒 | 360秒以內(nèi) | 2000秒以上 |
表.1 為EA1000VX與SEA100AII樣品測量時(shí)間(平均值)
*Cd為20 ppm,除此以外的元素是為了達(dá)到100 ppm的檢測zui低限所必要的總共時(shí)間。(本公司推薦條件下實(shí)施)
2. 高技術(shù)率檢測器(Vortex)
不需要液氮,使用zui大15萬cps的高計(jì)數(shù)率檢測器(Vortex)測量高靈敏度化,實(shí)現(xiàn)快速測量及高精度測量等。
3. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2的各種新功能,強(qiáng)化了有害物質(zhì)測量功能—材料判斷功能
測量開始后短時(shí)間內(nèi)就可測量樣品的材質(zhì)種類。以往,在測量前需要選擇分析菜單,由于裝置可以自動判斷材質(zhì),不會在選擇分析菜單時(shí)感到迷茫。
4. 提高操作性—操作面板
根據(jù)操作面板的指示器和提示音,了解測量進(jìn)度。根據(jù)測量面板的進(jìn)度條,把握測量進(jìn)展。
5. 各種環(huán)境限制用的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
除RoHS指令的管理對象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也開發(fā)和制造能對應(yīng)管理Cl、Sb、Sn等的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。
6. 自動進(jìn)樣器(選購項(xiàng))
自動進(jìn)樣器zui多可連續(xù)測量12個(gè)樣品。
7. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2進(jìn)行數(shù)據(jù)集中管理和趨勢管理
使用精度管理軟件使測量時(shí)間變短,通過利用數(shù)據(jù)庫對據(jù)點(diǎn)內(nèi)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行的集中管理(檢索、瀏覽、解析、編輯、印刷、報(bào)告書生成),可測量檢查的效率,達(dá)到消減成本。
日本日立X射線熒光分析儀